Kortvågigt infrarött (SWIR) är en specifikt konstruerad optisk lins som är utformad för att fånga kortvågigt infrarött ljus som inte är direkt uppfattbart av det mänskliga ögat. Detta band betecknas vanligtvis som ljus med våglängder som sträcker sig från 0,9 till 1,7 mikron. Funktionsprincipen för den kortvågiga infraröda linsen är beroende av materialets transmissionsegenskaper för en specifik ljusvåglängd, och med hjälp av specialiserade optiska material och beläggningsteknik kan linsen effektivt leda kortvågigt infrarött ljus samtidigt som den undertrycker synligt ljus och andra oönskade våglängder.
Dess huvudsakliga egenskaper omfattar:
1. Hög transmittans och spektral selektivitet:SWIR-linser använder specialiserade optiska material och beläggningsteknik för att uppnå hög transmittans inom det kortvågiga infraröda bandet (0,9 till 1,7 mikron) och har spektral selektivitet, vilket underlättar identifiering och ledning av specifika våglängder av infrarött ljus och hämning av andra ljusvåglängder.
2. Kemisk korrosionsbeständighet och termisk stabilitet:Linsens material och beläggning uppvisar enastående kemisk och termisk stabilitet och kan bibehålla optisk prestanda under extrema temperaturfluktuationer och varierande miljöförhållanden.
3. Hög upplösning och låg distorsion:SWIR-objektiv uppvisar optiska egenskaper med hög upplösning, låg distorsion och snabb respons, vilket uppfyller kraven för högupplöst bildbehandling.
Kortvågiga infraröda linser används i stor utsträckning inom industriell inspektion. Till exempel, i halvledartillverkningsprocessen, kan SWIR-linser upptäcka defekter inuti kiselskivor som är svåra att upptäcka i synligt ljus. Kortvågig infraröd avbildningsteknik kan öka noggrannheten och effektiviteten vid skivinspektion, vilket minskar tillverkningskostnaderna och förbättrar produktkvaliteten.
Kortvågiga infraröda linser spelar en viktig roll vid inspektion av halvledarskivor. Eftersom kortvågigt infrarött ljus kan penetrera kisel, gör denna egenskap det möjligt för kortvågiga infraröda linser att upptäcka defekter i kiselskivor. Till exempel kan skivan ha sprickor på grund av kvarvarande spänningar under produktionsprocessen, och dessa sprickor, om de inte upptäcks, kommer direkt att påverka utbytet och tillverkningskostnaden för det slutliga IC-chipet. Genom att utnyttja kortvågiga infraröda linser kan sådana defekter effektivt urskiljas, vilket främjar produktionseffektivitet och produktkvalitet.
I praktiska tillämpningar kan kortvågiga infraröda linser ge bilder med hög kontrast, vilket gör även små defekter tydligt synliga. Tillämpningen av denna detekteringsteknik förbättrar inte bara noggrannheten i detekteringen utan minskar också kostnaden och tiden för manuell detektering. Enligt marknadsundersökningsrapporten ökar efterfrågan på kortvågiga infraröda linser på marknaden för halvledardetektering år för år och förväntas upprätthålla en stabil tillväxtbana under de kommande åren.
Publiceringstid: 18 november 2024